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湖南盈能电力科技有限公司，专业仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有：数字电测仪表，可编程智能仪表，显示型智能电量变送器，多功能电力仪表，网络电力仪表，微机电动机保护装置，凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、电流互感器过电压保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式（油式）变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
本公司全系列产品技术性能指标全部符合或优于 标准。公司本着“以人为本、诚信立业”的经营原则，为客户持续满意的产品及服务。
市场上有多种信号源。尽管有各种各样的选择，但大多数信号源都是输出信号地线和机壳大地共地。非隔离信号源不能用于桥式整流、倍压整流和斩波器的测试中。为什么不能呢？在桥式整流电路下我们对非隔离信号源和隔离通道信号源（MFG-2000或AFG-3000）进行了以下比较。首先，我们必须知道正弦波经桥式全波整流后输出的理想波形，如下所示：大多数电子产品需要直流电给其内部组件供电。除电池供电的小型产品外，大多数电子设备需要电源或通过整流器和滤波器从A.C.转换成不同的稳定D.C.电压。
50Ω直接连接的响应被用作参考波形。有源探头响应与参考波形几乎无法区分。由于输入电容较高，无源探头响应有圆角。注意测量的上升时间。参考波形的上升时间（参数读数P1）为456皮秒(ps)，有源探头(P2)的上升时间则为492皮秒。无源探头的上升时间(P3)为1.8纳秒(ns)。在带宽相同的情况下，有源探头的性能通常优于无源探头。但还必须记住，有源探头需要电源。由于这个原因，有源探头几乎针对不同商的示波器均了 连接器。
温漂非线性，这需要在电路上加温度补偿式。采用单片机软件补偿，或无温度补偿的湿度传感器是保证不了全温范围的精度的，湿度传感器温漂曲线的线性化直接影响到补偿的效果，非线性的温漂往往补偿不出较好的效果，只有采用硬件温度跟随性补偿才会获得真实的补偿效果。湿度传感器工作的温度范围也是重要参数。多数湿敏元件难以在40℃以上正常工作。湿度传感器的供电金属氧化物陶瓷，高分子聚合物和氯化锂等湿敏材料施加直流电压时，会导致性能变化，甚至失效，所以这类湿度传感器不能用直流电压或有直流成份的交流电压。
现代传感器在原理与结构上千差万别，如何根据具体的测量目的、测量对象以及测量，环境合理地选用传感器，是在进行某个量的测量时首先要解决的问题。当传感器确定之后，与之相配套的测量方法和测量设备也就可以确定了。测量结果的成败，在很大程度上取决于传感器的选用是否合理。根据测量对象与测量环境确定传感器的类型要进行—个具体的测量工作，首先要考虑采用何种原理的传感器，这需要分析多方面的因素之后才能确定。因为，即使是测量同一物理量，也有多种原理的传感器可供选用，哪一种原理的传感器更为合适，则需要根据被测量的特点和传感器的使用条件考虑以下一些具体问题：量程的大小；被测位置对传感器体积的要求；测量方式为接触式还是非接触式；信号的引出方法，有线或是非接触测量；传感器的来源，国产还是进口，价格能否承受，还是自行研制。
模块电源广泛用于设备、接入设备、通讯、微波通讯以及光传输、路由器等通信领域和汽车电子、航天以及生活的各方各面。为了保证模块电源的安全可靠性能，电源模块离不完整的测试。AC-DDC-DC电源模块的完整测试往往包括机时间、关机时间、上升时间、下降时间的测试。测试系统，如艾德克斯ITS95电源测试系统可以完整的进行测试。如果不使用测试系统，如何使用直流电源+直流电子负载的方式简单测试DC-DC电源模块的、关机时间和上升、下降时间呢？艾德克斯IT8515/IT853系列电子负载，创新的时间量测功能，可以方便快捷地实现电源机时间与上升时间的测试，在电源行业有非常广泛的应用。
徇或表征仪表稳定性如今尚未有定量值，化工企业通常用仪表零漂移来权衡仪表的稳定性。称重仪表稳定性的优劣直接干系到仪表的应用范畴，偶尔直接影响化工消费，稳定性不好形成的影响屡屡双仪表精度降落对化工消费的影响还要大。稳定性不好仪表维护量也大，是仪表工 不盼望呈现的事情。称重仪表的敏锐度偶尔也称“放大比”，也是仪表静特性贴切线上各点的斜率。增长放大倍数能够进步仪表敏锐度，单纯加大敏锐度并不变化仪表的基天性能，即称重仪表精度并没有进步，相反偶尔会呈现振荡征象，形成输出不稳定。
可以用多种方法来缩短校准相位阵列天线所需的测试时间。其中 有效的方法应当是充分利用测试覆盖范围及其特定的天线体系结构。从根本上讲，对天线的阵元进行相对调整需要通过相对幅度（增益）和相位测量来实现。不过，这些测试需要由用户使用射频/微波探头在测试覆盖范围内的各种频率和相位AUT状态下进行。为应对大规模、多通道天线校准的挑战，是德科技推出了一种校准参考解决方案。该参考解决方案是硬件、软件和测量专业知识的集成，为窄带天线校准测试系统关键组件。
